μm级形貌测量系统——一种新型的断层面微观形貌测量技术
郝海健1), 魏占玉1), 何宏林1),*, 刘力强1), 郭玲莉2)

MICROMETER SCALE MORPHOLOGY MEASUREMENT SYSTEM: A NEW TECHNIQUE FOR MICRO-TOPOGRAPHY MEASUREMENT ON FAULT PLANES
HAO Hai-jian1), WEI Zhan-yu1), HE Hong-lin1), LIU Li-qiang1), GUO Ling-li2)
x 与 y 轴方向采样值的间隔评估 a x 轴方向步长频数分布图; b x 轴方向步长误差频数分布图; c y 轴方向步长频数分布图; d y 轴方向步长误差频数分布图